Для оптического исследования образцы разрезают вдоль плоскости CD, у получая в результате прозрачные шлифы, в которых можно просматривать реакционную зону. Для рентгеновского фазового и флюоресцентного анализа образец разрезают в плоскости АВ. Измеряют толщину шлифов и их поверхность подвергают облучению рентгеном.

Таким путем можно определить содержание Si и А1 в облученной поверхности (флюоресцентный анализ) и ее фазовый состав (рентгеновский анализ).

Затем плоскость шлифа, параллельную АВ, шлифуют шкуркой из карбида кремния.

Параллельность плоскостей, которые получают по мере последовательной сошлифовки, достигается благодаря жесткому закреплению пластинки в пластмассовой опоре.

Анализы проводят после сошлифовывания около 0,02 мм по толщине пластинки. Этот метод ранее уже применял автор.

Образцы, приготовленные по первому методу,- самые простые; их можно использовать только для изготовления прозрачных шлифов.

Поскольку поверхность контакта имеет цилиндрическую форму, метод последовательного сошлифовывания в данном случае неприменим. Меры, предпринятые, чтобы уменьшить влияние таких трещин, не устранили этот эффект.

Так как расчеты основаны на одновременном применении флюоресцентного рентгенофазового анализов, следует иметь в виду, что излучение, применяемое для флюоресцентного анализа, проникает на значительно меньшую глубину, нежели излучение рентгенофазового анализа. Поэтому мелкие поверхностные трещины сказываются только на результатах флюоресцентного анализа.

Именно этим объясняется более плавный ход кривой, характеризующей изменение содержания а-А1203 по сравнению с кривой общего содержания А120з. Поэтому количество муллита следует вычислять по количеству Si02, принимая, что муллит имеет состав ЗА1203: 2Si02.

В соответствии с этой предпосылкой общее количество А1203 было подсчитано суммированием связанной А1203 и а-А1203.